SDV4 : Nouvelles Méthodologie et Instrumentation pour la préparation d’échantillon

SDV4 : Nouvelles Méthodologie et Instrumentation pour la préparation d’échantillon

Claire Boulogne (I2BC, Gif/Yvette), Etienne Gontier (BIC, Bordeaux)

Mots clefs : Préparation d’échantillons, Analyse Chimique, 3D-SEM, Freeze-Drying, Résine

Résumé

Ce symposium aura pour objectif de présenter des résultats s’appuyant sur les dernières innovations technologiques en matière de préparation d’échantillon. Les grandes thématiques s’appuieraient sur 2 axes particulièrement concernés par des problématiques de préparation d’échantillon : (i) l’imagerie chimique et (ii) la 3D‐SEM.

L’imagerie chimique concerne une grande variété de microscopies, tant photoniques (imagerie synchrotron, spectroscopie IR, X‐rays) qu’électroniques (EELS et EDX). La préparation d’échantillons en imagerie chimique impose souvent de chercher un compromis entre résolution et sensibilité de détection. L’utilisation de systèmes d’analyse couplés à des instruments de pointe à haute résolution (type Synchrotron ou microscope électronique) pose un véritable défi en termes de préparation d’échantillons pour préserver aussi bien les structures que les éléments chimiques. Différentes pistes (cryo‐fixation, freeze‐drying…) pourront être présentées lors du symposium.

La 3D‐SEM est en plein essor depuis quelques années. Les différents instruments permettant de faire du serial section dans un SEM (SBF‐SEM, FIB‐SEM, array tomography) se répandent de plus en plus, et il est maintenant clair, le SEM devient l’équipement privilégié pour explorer un échantillon en 3D. L’amélioration de la résolution en 3D‐SEM passe par le développement de nouvelles techniques de préparation d’échantillons (cryofixation, resin‐less systems, conductive resins, etc.) répondant spécifiquement aux problèmes d’acquisition d’images en MEB. Ces développements seront présentés lors du symposium.

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