SDV3 : Microscopies corrélatives

SDV3 : Microscopies corrélatives

Jacomine Krijnse-Locker (Pasteur, Paris), Jean Michel (LRN, Reims)

Mots clefs : CLEM, AFM, EDX, EELS, X-ray

Résumé

Les Microscopes électroniques “cryo” de dernière génération sont maintenant capables de résoudre des structures à une échelle quasi atomique suscitant un grand intérêt pour la microscopie électronique. Cependant, à haute résolution la vue d’ensemble est perdue, les évènements rares ou dynamiques étudiées en microscopie optique sont difficiles voire impossibles à capturer par microscopie électronique créant ainsi le besoin de corréler le signal de microscopie optique avec les détails révélés à haute résolution. La microscopie corrélative optique/ électronique (CLEM) repose sur un large éventail de méthodologies dépendant de la question à résoudre. Un défi de la CLEM est l’imagerie de régions d’intérêts avec une grande précision et suffisamment d’événements pour permettre la quantification. Cela nécessite un apport méthodologique pour guider l’imagerie électronique aux positions d’intérêts. CLEM et cryo-CLEM sont utiles à un large champ de question en sciences de la vie ; comme par exemple le mode d’interaction des agents pathogènes avec leurs hôtes à l’échelle cellulaire comme à l’échelle tissulaire. A la plus haute résolution, l’approche CLEM permet de résoudre des complexes de protéine in situ dans leur environnement naturel plutôt que purifié. A plus large échelle, la fluorescence peut permettre de cibler la nanoanalyse (EDXS, EELS) sur des domaines marqués (e.g zone riche en chromatine) ou pour discriminer des cellules ou des zones tissulaires en fonction de leur état fonctionnel (e.g états apoptotiques). La microscopie corrélative n’étant bien sûr pas limitée aux imageries optiques et électroniques, ce symposium sera naturellement ouvert à toutes les formes d’imagerie (AFM , rayons X,..).

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