SDM3 : Diffraction : Cristallographie et Microstructure

SDM3 : Diffraction : Cristallographie et Microstructure

Mayté Caldès (IMN Nantes), Denis Pelloquin (CRISMAT, Caen)

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Résumé

La caractérisation fine de la nanostructure est devenu un des enjeux majeurs en Science des Matériaux, tant pour établir les caractéristiques cristallographiques du matériau étudié que pour analyser et comprendre les propriétés afférentes. Celles-ci sont intimement corrélées à la structure atomique mais aussi influencées par les caractéristiques nanostructurales telles que les inhomogénéités chimiques, les fautes d’empilement étendues, les inclusions ou la formation de phases secondaires aux joints de grains. Une approche de caractérisation multi-échelle combinant techniques de diffraction et cartographie de phases semble donc indispensable.

Avec la généralisation des systèmes d’acquisition numérique, l’avènement des caméras à détection directe et le développement des méthodes tomographiques les approches cristallographiques à partir de données de diffraction électronique se sont particulièrement développées depuis quelques années. Ce symposium vise à faire un tour d’horizon sur ces avancées qui concernent tous les types de matériaux, y compris les plus instables, qui bénéficient de la rapidité d’acquisition des microscopes actuels.

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