SdM3 : Cristallographie, structures et microstructures

SdM3 : Cristallographie, structures et microstructures

E. Bouzy (LEM3, Metz), C. Leroux (Toulon)

Mots clefs : EBSD,  TKD, ECCI, HRTEM, ACOM, PED, NBED, CBED, STEM in SEM, STEM in TEM

Conférenciers invités : N. Bozzolo (Mines, Paris), JL. Rouvière (CEA, Grenoble)

Résumé

La cristallographie est à la base de l'élaboration de tous les nouveaux matériaux. En effet, afin d'optimiser et de développer de nouvelles fonctionnalités, l'arrangement atomique, les orientations, les déformations élastiques des cristaux et les défauts qu’ils présentent doivent être étudiés dans l'espace réel et/ou dans l'espace réciproque, et ce à différentes échelles. Pour ce faire, que ce soit en MEB ou en MET, différentes techniques de diffraction et d'imageries sont utilisées parmi lesquelles : EBSD,  TKD, ECCI, HRTEM, ACOM, PED, NBED, CBED, STEM in SEM, STEM in TEM… Ce symposium se veut général et regroupe les études de structure et microstructure de matériaux sous forme massive, de poudres ou de couches minces, qui font appel aux techniques ci-dessus ou à toutes autres techniques relatives à la cristallographie.  Les contributions qui établissent un lien certain entre l'étude structurale et microstructurale et les propriétés du matériau sont les bienvenues.

 

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