SC1 : Avancées instrumentales et développements méthodologiques

SC1 : Avancées instrumentales et développements méthodologiques

F. Houdellier (CEMES, Toulouse), WL. Ling (IBS, Grenoble)

Mots clefs : Nouvelles sources, low-dose microscopie, détecteurs non conventionnels, ultrafast, optique adaptative

Intervenants : M. Viteau (Orsay Physics), N. Accanto (INSERM, Paris Sorbonne)

Résumé

Les développements instrumentaux et méthodologiques récents en microscopie touchent aussi bien les applications dans la science de la vie que dans la science des matériaux. La volonté d’étudier des échantillons sensibles, tout en augmentant les limites de résolution et de détection des instruments actuels, poussent les développements vers de nouveaux détecteurs plus sensibles, des méthodes d’acquisitions et de traitements plus rapides mais aussi de nouvelles méthodes de préparation et d’analyse des matériaux en utilisant des sources innovantes. Les sujets de ce symposium incluent, mais sans s'y limiter, de nouveaux algorithmes et méthodes pour augmenter l’efficacité et repousser les limites des microscopes tel que la détection pixélisée en STEM, des balayages non conventionnels, des nouveaux modes optiques comme l’utilisation de déflecteurs ultra-rapides dans le cas des approches pompe-sonde, l’automatisation du microscope, etc.

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